精密LCR測(cè)試儀/數(shù)字電橋
型號(hào)：VSN/AT-2818 |
貨號(hào)：ZH5345 |
參數(shù)規(guī)格:
測(cè)試主副參數(shù)：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
測(cè)試監(jiān)視參數(shù):Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ%
測(cè)試頻率：10Hz~300kHz (12萬點(diǎn))
基本準(zhǔn)確度：0.05%
測(cè)試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進(jìn)
測(cè)試速度：3次/秒，6次/秒,10次/秒，30次/秒
主參數(shù)6位，副參數(shù)6位顯示，監(jiān)視參數(shù)6位顯示
L: 0.00001μH - 999999H
C: 0.00001pF - 999999μF
R,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ?
D,Q: 0.00001 - 999999
θ(deg): -90.0000°- 90.0000°?
θ(rad): -3.14159 – 3.14159
Δ%: -999.999% - 999.999%
輸出阻抗：30Ω, 50Ω和100Ω
等效電路：串聯(lián), 并聯(lián)
自動(dòng)測(cè)試：量程自動(dòng)，等效電路自動(dòng)，參數(shù)自動(dòng)。
性能特征:
真彩16M色，TFT-LCD顯示。
校正功能：開路和短路掃頻清零,三組用戶點(diǎn)頻校準(zhǔn)。
多頻測(cè)試：支持10個(gè)頻率掃描測(cè)試
多電平測(cè)試：支持10個(gè)電平掃描測(cè)試
10組文件管理，可完，存儲(chǔ)儀器狀態(tài),列表掃描設(shè)置和比較器設(shè)置。
增強(qiáng)型比較器（分選）功能：可編程的P1~P9 九檔分選，主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出，NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
，偏差（ABS）比較方式、相對(duì)偏差（PER）和順序（SEQ）比較方式。
可開關(guān)的附屬檔（AUX）分選。
可編程1～200次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
自定義分選結(jié)果訊響。
內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
1000V沖擊保護(hù)
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