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高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀（生產(chǎn)用）
型號：KDKLT-1B |
貨號：ZH8203 |
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產(chǎn)品簡介: 高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀是按照半導(dǎo)體設(shè)備和材料MF1535-0707及GB/T 26068的要求，采用高頻光電導(dǎo)衰減測量方法，適用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，硅單晶壽命測量ρ≥3Ω·cm。 規(guī)格參數(shù) 壽命測試范圍：5-10000μs 電阻率測量范圍：ρ≥3Ω·cm， 光脈沖發(fā)生裝置 重復(fù)頻率：＞25次/s 脈寬：≥60μs 光脈沖關(guān)斷時間＜1μs 紅外光源波長：1.06μm（測量硅單晶），如測量鍺單晶壽命需配適當(dāng)波長的光源。 脈沖電源：5A-12A 高頻源 頻率范圍：30MHz 輸出功率＞1W 放大器、檢波器 頻率響應(yīng)：2Hz-3MHz 讀數(shù)方式：可選配測試軟件或數(shù)字示波器讀數(shù) 測試軟件：具有自動保存數(shù)據(jù)及測試點衰減波形，可進行查詢歷史數(shù)據(jù)和導(dǎo)出歷史數(shù)據(jù)等操作。
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