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兩探針單晶硅多晶硅測試儀
型號：SHY-JGL1

貨號：ZH9060

產品簡介:
本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。
為適應大規模集成電路的迅猛發展，特別是計算機芯片、內存的發展，越來越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度%高的單晶硅材料。目前，在美國、德國等，的工業，，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。
本儀器，美國ASTM 《“F391-77”關于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是一種%的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法，測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而進一步判斷半導體材料的性能，指導和監視，操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量精度高、穩定性好、結構緊湊、使用方便、造型美觀等特點。也可以配四探針測試頭作常規的四探針法測量硅晶體材料。
儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結果由大型LED數字顯示，零位穩定、輸入阻抗高，并設有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數修正功能，從面板輸入相應的修正系數，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，造型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步進測量，也可以自由選擇固定位置測量，電，活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長特點。同時探頭壓力恒定并且可調整，以適合不同的材料。
規格參數：
可測硅材料尺寸：
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的，要求。
長度：100~1100mm.
測量方式：軸向測量，每隔10mm測量一點。
測量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴展到10⁵Ω-cm。
數字電壓表：
量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
測量誤差：±0.3%讀數±2字
輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>106Ω
           20mV檔及以上>108Ω
顯    示：31/2位LED數字顯示，范圍0~1999。
恒流源：
電流輸出：直流電流0~100mA連續可調。
量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
電流誤差：±0.3%讀數±2字
二探針測試裝置：
探針間距：4.77mm
探針機械游移率：0.3%
探針壓力：0~2kg可調
測試探頭自動升降
二探針測試臺
測試硅單長度：100-1100mm
測試點間距：10mm
測試臺有慢、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻手動）
電    源：交流220V±10%，50HZ±2HZ
消耗功率：<150W

上一條：中空玻璃用露點儀

下一條：紫外照射檢測儀

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